半導体製造業

JMPは、その広範な統計分析機能とインタラクティブな操作性により、 設計、収率、テスト、工程、品質、および信頼性を担当する各エンジニアリングワークグループにとって、 データ構造の調査、製造工程の分析、および実験計画に含まれている機能を使った欠陥の発生機会数の分析を行う標準ツールとなっています。
JMPは、既存の製品と技術に関する問題解決および収率改善プログラムをサポートします。また、製品の変更、新しい製品や技術の開発および改善を先導したり伝えたりする場合にも使用できます。

広範な統計解析機能と対話的な操作性により、設計、歩留まり改善、検定、工程、および信頼性の管理を実現

グラフ、プロット、およびデータが動的に相互リンクするため、複雑なデータをより的確に早く理解できます。

JMPの実験計画とGage R&Rの最新手法は、計画を問題にあてはめます。その逆ではありません。また予測 プロファイルによりそのモデルから導かれる結果を理解できます。

ジャーナル機能により、プロセスの変更要請と設備の適格性評価の標準ワークフローの定義や、出力の整理および検討が可能になります。

JMPスクリプト言語により、一連の分析手順の自動化や、出力の調整が可能です。

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